快速、精确地测量 S 参数：

• 完整的单端和差分 S 参数
• 精确地测量回波损耗、插入损耗（衰减）、近端串扰（NEXT）、远端串扰（FEXT）、相位和群延迟
• 先进的校准技术可以消除电缆和夹具带来的不利影响，提高测量精度
• 可以Touchstone格式或 .txt 格式导出结果

用于各种应用中的故障诊断和一致性测量：

• USB
• SATA/SAS
• PCI Express
• 定制的电气设计等

为新用户提供了便于使用的功能，同时还为专家提供了先进的特性：

• 视频指南――帮助临时用户执行精确的测量，而不会影响到高级用户
• 一键式测量――快速、轻松地在时域（阻抗）和频域（S 参数）之间进行转换
• TDR 萃取――消除多重反射带来的不利影响

精确的 TDR/TDT 测量：

• TDR 校准――可消除电缆和夹具带来的不利影响
• 可调整的有效上升时间――使用与设计匹配的边沿速度测量阻抗
• 非匹配的TDR 步进对称――可降低测量误差
• 快速步进（9ps 上升时间）和 >70GHz 带宽――可通过皮秒脉冲实验室边沿加速器和 86118A 远程采样探头获得